전자 현미경 다이제스트

선우 준 | e퍼플 | 2017년 08월 04일 | PDF

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도서소개

본 책은 ‘핵심 물리 분석(선우 준, 2014.10.8)’ 의 제목을 ‘전자 현미경 다이제스트’로 변경하고 내용을 보강하여 완성도를 높인 수정본이다.
재료학의 기본은 물질의 내부 구조와 물성과의 관계를 확립시키는 것이다. 이런 관계를 바탕으로 물질의 내부 구조를 제어하여 물성을 향상시키는 방안을 강구할 수 있게 된다. 재료학뿐만 아니라 생화학에서도 X선 회절법으로 DNA의 구조를 밝히면서 과학의 새로운 장이 열렸다. 물질의 내부 구조는 원자의 배치를 의미한다. 물질의 내부 구조를 밝힐 수 있는 가장 강력한 도구가 X선 회절법(X-ray diffraction)과 전자 회절법(electron diffraction) 이다. 금속 공학에서는 투과 전자 현미경의 도입으로 금속의 선결함, 면결함을 직접 관찰할 수 있게 되었다. 수학적 모델로 간주되었던 선결함이 전자 현미경으로 직접 관찰되자 수학이 금속 공학 이론 정립에 중요한 도구가 되었다. 수학의 도입으로 금속 공학이 아름다운 학문으로 재탄생한다.
본 책에서는 회절법(diffraction)의 수학적 해석과 금속 결함인 선결함(dislocation), 면결함의 수학적 분석법의 소개를 통하여 전자 현미경에 대한 개념 확립을 할 수 있도록 내용을 구성하였다. 투과 전자 현미경과 같은 고급 분석법으로 재료 공학에 대한 시야를 넓힐 수 있기를 바란다.

저자소개

선우 준(鮮于 俊, Jun SONU)
-TOP 21 대표이사, 전지 컨설턴트

학력
-서울대학교 공과대학 금속공학과 졸업(1980.2)
-미국 Wayne State University 석사(1984.12)
-미국 University of Cincinnati 공학박사(1988.9)

경력
-LG금속 차세대전지 개발팀장(1989~1995)
-LG화학 전지사업부 기획개발팀장(1996~2001)
-삼성SDI 상무(자동차용 전지개발)(2002~2006)
-한화케미칼 상무(전지사업전략)(2010~2013)

대표저서
(1)2차전지 Road to the TOP(서울대학교출판문화원, 2015년8월15일)
-2016년 세종도서 우수학술도서
(2)The Road to the TOP, Secondary Batteries
(서울대학교출판문화원, 2016년11월30일, 영문서적)

목차소개

1. 기초 개념
2. 기초 수학
3. 전자기학
4. 푸리에 변환
5. X선 회절
6. 파동 함수
7. Atomic scattering factor
8. 회절 조건
9. 상(image)형성
10. 선결함(dislocation)

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